VSC系列文检工作站使用技巧（上） - 光源使用
荧光自动扫描检验
荧光检验对于印章、墨迹、纸张等书写材料的检验至关重要，可以通过书写材料在强光源不同波段激发下光致荧光强度实现检验。国内也有用户使用设备用于检验非漏型激光打印文字朱墨时序，并发表了相关论文。
荧光检验操作步骤如下（实际操作视频，请点击本链接至页面末尾）：
1. 手动检验：设备内置了经过大量测试后常用的15波段的激发光源，可由检验人员手动点击后观察书写材料的荧光效果；
2. 自动扫描检验：检验人员只需启动软件菜单中“荧光自动扫描”功能，由设备自动扫描检材，寻找最佳荧光强度，具体操作如下：
点击菜单中“自动红外荧光扫描”
，仪器会出现红色和蓝色方框，只需要检验人员将红色和蓝色方框分别放置在不同检材位置上，点击开始，仪器便自动启动扫描检验，扫描完毕后，自动显示最佳激发荧光强度的激发波段。
鼠标左键分别点击并按住拖动两个方框到图像中两个需要比对的区域，方框如下图箭头指示位置，点击“是”开始自动扫描。
同轴光应用于激光打印文件检验
文检仪内置的同轴光采用高色温LED技术，通过顶部垂直入射到检材并接收其反射光生成的图像，实现对检材的检验。同轴光不但可用于证件的防伪检验，也可实现对于激光打印文件的检验。实际操作视频，请点击本链接至页面末尾。
以某年的文检盲测题为例：要求鉴定下图协议中“乙方代配置电教大楼电教设备叁拾万捌仟元整。尚欠叁拾万捌仟元整。”是否与该文件的其它文字为一次打印形成。
激光打印文件的形成方式主要为纸张经过带有墨粉的光导体，将墨粉吸附到纸张上，并通过定影方式将墨粉熔化加压后形成图像。墨粉的主要成分为碳，因此无法通过红外吸收或激发荧光检验。通过文检仪内置的同轴光，可清晰地观察到“乙方代配置电教大楼电教设备叁拾万捌仟元整。尚欠叁拾万捌仟元整。”其对同轴发射光反射强度远远低于检材中的其它文字。从而为检验鉴定提供了充足的依据。
显微分光光度计的使用技巧
文检仪内置高速显微分光光度计，具有灵敏度高、准确和检验速度快的特点，能够客观地以无损检验方法实现书写材料的量化检验和精确区分，从而有效提升检验的精确度。为了实现对于感兴趣区域AOI的精确检验，提升检验重复性和准确性，可参考以下步骤（实际操作视频，请点击本链接至页面末尾）：
1. 调整文检仪光学放大倍率在30倍以上；在取样点的选择上，要选取运笔连贯、墨水分布均匀且笔画墨迹相对浓重的区域，避免留白处，以最大限度避免纸张纤维的干扰。
2. 可自行选择黑色的硬纸张，并在上面开几个直径0.5-1cm的圆孔；进行光谱分析时，将感兴趣区域墨迹或印油从开的圆孔露出，黑色的硬纸张其它部分遮盖检材的其它部分，这样最大限度地减少检材其它区域对于检验结果的干扰。
3. 检验过程中，文检仪将提示放置“参考样本”，此时尽量将随机提供的标准白放置在载物台上，由系统进行采样分析。不要选择纸张的其它空白区域作为参考样本。
4. 多次测量保证检验的重复性。为了避免误差，保证检验结果的准确性，应在同一笔画选取多个检测点( 一般应在同一笔画的起笔、收笔等墨迹相对浓重的点) 分别进行光谱检测，再使用光谱平均功能进行平均值计算，从而得出最终的显微分光光谱图。
光谱解读
内置在睿鹰VSC8000HS文检仪中的显微分光光度计采用独立的成像和光纤信号传输技术，能够在400-1000纳米内实现红外吸收、红外反射、荧光光谱和透射光谱的检验。其中最常用的为红外吸收和红外反射光谱分析。实际操作视频，请点击本链接至页面末尾。
在完成光谱分析后，需要对形成的光谱曲线进行分析，在光谱分析时，需要注意以下两个方面：
1. 光谱相对强度（Y轴方向高度）是取样点墨迹对入射光发射强度的反映，不反映墨水成分区别：如果同一笔画两个不同的取样点墨迹浓淡不同，其反映在坐标系中光谱相对强度（Y轴方向高度）则不同；但由于取样点的成份一致，因此两个取样点生成的光谱曲线平行度较高。
以下光谱图为两种不同墨迹，曲线1、2、3为同一笔画上墨迹浓淡不同的取样点，可以看出曲线1、2、3具有较好的平行度，也从侧面说明由于是同一种墨水，因此其成分对于不同波段的入射光的反射特性基本一致。
2.光谱曲线拐点反映墨迹成分差异：上图中图谱1、2、3和图谱4、5、6具有明显的走势拐点差异，反映由于两种墨水成分的差异，导致其对不同波长入射光的反射强度存在较大差异。
高放大倍率下可见光光源的使用
光学放大观察是文件检验的重要技术手段，文检仪中的光学放大能够实现文件中诸多细节特征进行观察和分析。高放大倍率下由于彩色成像系统需要更多的进光量，如果选择使用文检仪中的可见入射光源，会导致图像清晰度下降。因此如果希望实现30倍以上高清光学放大，建议使用文检仪光源部分的“点光源”作为检验光源。实际操作视频，请点击本链接至页面末尾。
入射光高放大倍率下图像：
点光源在高放大倍率下的图像：
